בשנים האחרונות חלה עלייה במורכבות החומרים ובמזעור הרכיבים, המחייבת כיום בדיקות ברזולוציה המתאפשרת רק באמצעות מיקרוסקופיה אלקטרונית חודרת בטכנולוגיות STEM ו-TEM. תהליך הכנת הדגמים לניתוח כשלים וחקר הביצועים בשלב ה-Front-end בקו הייצור וניתוח כשלים מחוץ לקו הייצור, מהווה "צוואר בקבוק" מכיוון שטכנולוגיות הכנת הדגמים הקיימות אינן מספקות את רמת הרזולוציה והקונטרסט הגבוהות הנדרשות כיום בשוק. מערכת Xact של קמטק מתגברת על מגבלות אלה באמצעות טכנולוגיית דיקוק על ידי שימוש בקרן יונים ( AIM) המאפשרת הכנת דגמים מהירה בתפוקה גבוהה יותר, עם פגיעה מינימאלית במבנה החומר.
מובהר ומודגש כי הכותב [מחזיק בניירות ערך שהונפקו על ידי החברה נשוא המאמר] או [מספק שירותי ייעוץ לחברה בתחום שוק ההון ומקבל תמורה עבור כך] ("החברה"), ועל כן קיים לו עניין אישי בחברה ובניירות הערך שלה. אין לראות במידע המובא במאמר כהצעה או שידול לקנות, למכור או לבצע עסקה כלשהיא בנייר ערך או מכשיר פיננסי אחר שהונפק על ידי בחברה, ואין באמור משום המלצה או הבעת כדאיות לגבי השקעה בחברה. המידע שמסופק במאמר הינו לצורך אינפורמטיבי בלבד, ואינו מהווה ייעוץ השקעות ו/או תחליף לייעוץ השקעות המתחשב בצרכיו ונתוניו האישיים של כל אדם.